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          德國菲希爾

          德國菲希爾FISCHER  XUL \ XULM  X 射線熒光鍍層測厚儀
          • 德國菲希爾FISCHER  XUL \ XULM  X 射線熒光鍍層測厚儀

          德國菲希爾FISCHER XUL \ XULM X 射線熒光鍍層測厚儀

          簡介:在電鍍或電子元件生產過程中需要快速且精確地測定鍍層厚度時,XUL® 系列測量儀器是您的首選解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進行測量,能夠在測量臺上對樣品進行輕松定位。
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          詳細說明

          在電鍍或電子元件生產過程中需要快速且精確地測定鍍層厚度時,XUL® 系列測量儀器是您的首選解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進行測量,能夠在測量臺上對樣品進行輕松定位。該系列的所有 X 射線儀器均配備相同的探測器。您可以根據自己的測量需求選擇不同的準直器、濾波器以及 X 射線管。

          特性:

          ● 憑借寬大的測量室和自下而上的測量方向,即使大型樣品(如:印制電路板或柔性電路板)也可簡便、快速地定位

          ● 硬件選項豐富多樣,可滿足各種測量需求

          ● 可選配微聚焦 X 射線管,從而可測量直徑僅為 100 µm 的微型結構和測量表面

           

          應用:

          ● 鉻鍍層,如:經過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品

          ● 防腐蝕鍍層,如鋼材上的鋅鍍層

          ● 印制電路板和柔性電路板上的鍍層

          ● 接插件和連接器上的鍍層

          ● 電鍍槽液分析


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